Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв Speedy 13.00 лв ЕКОНТ 6.00 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв Box Now 6.00 лв

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Език Английски езикАнглийски език
Книга С твърди корици
Книга Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin
Код Либристо: 01376744
Издателство Springer Science+Business Media
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray... Цялото описание
? points 508 b
396.41 лв
50% вероятност Ще претърсим света Кога ще получа книгата?

30 дни за връщане на стоката


Може би ще Ви заинтересува


Medieval Clothing and Textiles Robin Netherton / С твърди корици
common.buy 226.76 лв
American English in Mind Level 3 Testmaker CD-ROM and Audio CD Sarah Ackroyd / Аудио компактдиск
common.buy 127.86 лв
Der Schatz von Atlantis Gabriele Beyerlein / С меки корици
common.buy 21.28 лв
Effective Mathematics of the Uncountable Noam Greenberg / С твърди корици
common.buy 237.96 лв
Applied Stress Analysis T.H. Hyde / С твърди корици
common.buy 283.98 лв
Der narrative Ansatz in der politischen Bildung. Ingo Juchler / С меки корици
common.buy 34.71 лв
Rolling Home Alan Bennett / С меки корици
common.buy 29.66 лв

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.

Информация за книгата

Пълно заглавие Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Език Английски език
Корици Книга - С твърди корици
Брой страници 454
Баркод 9780306421402
ISBN 0306421402
Код Либристо 01376744
Издателство Springer Science+Business Media
Тегло 1880
Размери 156 x 234
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo