[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Box Now 9.00 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Box Now 9.00 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Advances in X-Ray Analysis
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynami...
Цялото описание
Код Либристо: 05185537
?
164 b
164 b
128.48
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 13-16 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
/
С меки корици
125.75
лв
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.
Информация за книгата
Пълно заглавие
Advances in X-Ray Analysis
Автор
John B. Newkirk, Gavin R. Mallett
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2012
Брой страници
558
Баркод
9781468478372
ISBN
1468478370
Код Либристо
05185537
Издателство
Springer-Verlag New York Inc.
Тегло
1075
Размери
178 x 254 x 31
Категории
