Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв Speedy 13.00 лв ЕКОНТ 6.00 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв Box Now 6.00 лв

? points 164 b
128.23 лв
Външен склад в ограничено количество Изпращаме след 13-16 дни

30 дни за връщане на стоката


Може би ще Ви заинтересува


L'Epopea Della Cremonese Nell'anglo-Italiano Massimo D'Agostino / С меки корици
common.buy 19.26 лв
Budget-Wise Gardener Kerry Ann Mendez / С твърди корици
common.buy 35.30 лв
En busca del resplandor 1 Jeff Smith / С меки корици
common.buy 38.33 лв
The Life Of George Rogers Clark James Alton James / С меки корици
common.buy 97.76 лв
I Can Write the World Joshunda Sanders / С твърди корици
common.buy 33.69 лв

It is interesting to observe the ever increasing versatility of X-ray analysis as evidenced by the wide range of application to the myriads of problems confronting the technological com munity, a versatility limited only by the imagination and inge nuity of the scientist, the designer of X-ray equipment, and the novice or student. Tomorrow's engineering alloys will undoubt edly be influenced by today's extremely low- and very high-tem perature X-ray research. New and continued insight into the basic architecture of crystalline materials is being achieved by studies of lattice imperfection, recrystallization habit, and phase transformation. Techniques for identification and analysis of minerals by X-ray diffraction and fluorescence are equally ame nable to pathological and physiological diagnosis. The experi mental setup of this month may well become an instrument for routine process control next month. And such developments occur so rapidly iIi so many different laboratories that it is difficult to keep abreast of this tidal wave of information. The dictates of this nation's economy and its struggle for technological supremacy demand a full awareness of the ac complishments of one's associates. Such awareness is most effectively obtained through personal contact. where the beginner can benefit from the experiences of the expert, the basic re searcher and the applied researcher can exchange views, and the creative research of each is nurtured by the sharing of mutual or associated problems.

Информация за книгата

Пълно заглавие Advances in X-Ray Analysis
Автор William M. Mueller
Език Английски език
Корици Книга - С меки корици
Дата на издаване 2012
Брой страници 376
Баркод 9781468474039
ISBN 1468474030
Код Либристо 05258246
Издателство Springer-Verlag New York Inc.
Тегло 567
Размери 152 x 229 x 21
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo