[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
Код Либристо: 02254276
?
499 b
499 b
388.94
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 13-16 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
Информация за книгата
Пълно заглавие
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2013
Брой страници
250
Баркод
9781475793277
ISBN
1475793278
Код Либристо
02254276
Издателство
Springer-Verlag New York Inc.
Тегло
507
Размери
178 x 254 x 15
