[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposi...
Цялото описание
Код Либристо: 02254200
?
499 b
499 b
388.94
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 13-16 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
/
С твърди корици
252.90
лв
/
С меки корици
146.22
лв
/
С меки корици
116.86
лв
This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.
Информация за книгата
Пълно заглавие
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2013
Брой страници
210
Баркод
9781475781847
ISBN
1475781849
Код Либристо
02254200
Издателство
Springer-Verlag New York Inc.
Тегло
426
Размери
178 x 254 x 13
