[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...
Цялото описание
Код Либристо: 01421940
?
499 b
499 b
388.94
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 13-16 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
/
С меки корици
388.94
лв
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.
Информация за книгата
Пълно заглавие
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2010
Брой страници
430
Баркод
9781441932990
ISBN
1441932992
Код Либристо
01421940
Издателство
Springer-Verlag New York Inc.
Тегло
1390
Размери
152 x 229 x 25
