[email protected]
LIBRISTO 0
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв Speedy 13.00 лв ЕКОНТ 6.00 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв Box Now 6.00 лв
phone Контакт phoneКак се пазарува?

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Език Английски езикАнглийски език
Книга С твърди корици
Книга CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. DemkovBill TaylorH. Rusty HarrisJeffery W. Butterbaugh
Код Либристо: 02060485
Издателство Materials Research Society, ноември 2009
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Цялото описание
? points 341 b
265.69 лв
Външен склад Изпращаме след 15-20 дни

30 дни за връщане на стоката

Може би ще Ви заинтересува

Jon Burgerman's Burgerworld Jon Burgerman / С меки корици
common.buy 52.85 лв
Mini-Grids for Rural Electrification of Developing Countries Subhes Bhattacharyya / С твърди корици
common.buy 320.77 лв
Neues Testament Lukas Bormann / С твърди корици
common.buy 76.75 лв
In Pursuit of the Good Life Jocelyn Lim Chua / С меки корици
common.buy 78.77 лв
Planning Against the Political Jonathan Metzger / С меки корици
common.buy 145.75 лв
Behind the Public Veil Lewis V. Baldwin / С меки корици
common.buy 45.18 лв
Multicultural Japan Donald DenoonMark HudsonGavan McCormackTessa Morris-Suzuki / С меки корици
common.buy 113.47 лв
Molecular Genetics of Colorectal Neoplasia James M. Church / С меки корици
common.buy 252.78 лв

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Информация за книгата

Пълно заглавие CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Автор Alexander A. DemkovBill TaylorH. Rusty HarrisJeffery W. Butterbaugh
Език Английски език
Корици Книга - С твърди корици
Дата на издаване 2009
Брой страници 194
Баркод 9781605111285
ISBN 1605111287
Код Либристо 02060485
Издателство Materials Research Society
Тегло 430
Размери 160 x 236 x 14

Категории

Technology, Engineering, Agriculture > Mechanical engineering & materials > Production engineering > Industrial quality control
Technology, Engineering, Agriculture > Mechanical engineering & materials > Materials science
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително
Забравена парола

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo