Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв Speedy 13.00 лв ЕКОНТ 6.00 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв Box Now 6.00 лв

Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs

Език Английски езикАнглийски език
Книга С меки корици
Книга Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs Peter AaenJaime A. PláJohn Wood
Код Либристо: 02027838
Издателство Cambridge University Press, юни 2011
This 2007 book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for season... Цялото описание
? points 287 b
223.83 лв
Външен склад Изпращаме след 19-25 дни

30 дни за връщане на стоката


Може би ще Ви заинтересува


Augustine and the Trinity Lewis Ayres / С меки корици
common.buy 144.34 лв
An Average Schmuck Writes a Running Book MR Tracy B Vetter / С меки корици
common.buy 33.08 лв
Jewish Identity and Civil Rights in America Kenneth L. Marcus / С твърди корици
common.buy 184.08 лв
Madchen Malbuch Mojo Enterprises / С меки корици
common.buy 22.18 лв
Lebensalter Peter Härtling / С твърди корици
common.buy 32.98 лв
Edgar Allan Poe, Gesammelte Werke Edgar Allan Poe / С твърди корици
common.buy 18.55 лв
Müzmin Bekarlar Danielle Steel / С меки корици
common.buy 34.09 лв
Dream Vessel Jeff Bredenberg / С меки корици
common.buy 31.06 лв

This 2007 book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, and the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices.

Информация за книгата

Пълно заглавие Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Език Английски език
Корици Книга - С меки корици
Дата на издаване 2011
Брой страници 380
Баркод 9780521336178
ISBN 0521336171
Код Либристо 02027838
Издателство Cambridge University Press
Тегло 634
Размери 171 x 245 x 21
Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo