Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв Speedy 13.00 лв ЕКОНТ 6.00 лв Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв Box Now 6.00 лв

Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires

Език Английски езикАнглийски език
Книга С меки корици
Книга Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires Stephan Pröller
Код Либристо: 01668601
Издателство Grin Publishing, октомври 2011
Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language:... Цялото описание
? points 137 b
106.81 лв
Външен склад Изпращаме след 15-20 дни

30 дни за връщане на стоката


Може би ще Ви заинтересува


Rechtliche Fragen im Eventmarketing - Ein systematischer UEberblick Holger Löbel / С меки корици
common.buy 82.10 лв
Schau her - ich brauche keine Windel mehr Julia Volmert / Дипляна
common.buy 17.74 лв
Risk factors of dehydration among elderly in Egypt Mustafa Shaban / С меки корици
common.buy 108.73 лв
Ethique de la Recherche Et Des Essais Cliniques Boucif Debab-Z / С меки корици
common.buy 85.53 лв
Coleopterorum catalo gus 55 S. Schenkling / С меки корици
common.buy 60.41 лв
Organized Uncertainty Michael Power / С меки корици
common.buy 102.38 лв
Concepts in Law and Economics Jim Leitzel / С твърди корици
common.buy 128.70 лв

Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language: English, abstract: In this thesis the InAs(111)B surface and III-V semiconductor nanowires are investigated using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. The morphology of InAs nanowires grown without gold particle is studied. Radial nanowire heterostructure such as InP core with InAs shell are analyzed and the wurtzite {10-10} top facet is identified. Furthermore nanowire heterostructures with an InP core and InAs shell with induced stacking faults possibly giving rise to quantum dots, which could be used as quantum dot lasers or for quantum information processing, are investigated. A model is obtained based on morphology analysis and as top facet the wurtzite {10-10} and{11-20} are found. Furthermore stacking faults on top of a nanowire are seen.The analysis of the InAs(111)B surface shows the hexagonal pattern. Defects are determined to occur due to missing In atoms in the first layer. Spectroscopy next to those defects indicated no influence on the local electronic structure.

Информация за книгата

Пълно заглавие Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Автор Stephan Pröller
Език Английски език
Корици Книга - С меки корици
Дата на издаване 2011
Брой страници 64
Баркод 9783656010494
ISBN 3656010498
Код Либристо 01668601
Издателство Grin Publishing
Тегло 95
Размери 148 x 210 x 4

Категории

Подарете тази книга днес
Лесно е
1 Добавете книгата в количката си и изберете Доставка като подарък 2 В замяна ще ви изпратим ваучер 3 Книгата ще пристигне на адреса на получателя

Вход

Влезте в акаунта си. Още нямате акаунт за Libristo? Създайте го сега!

 
задължително
задължително

Нямате акаунт? Използвайте предимствата на акаунта за Libristo!

Благодарение на акаунта за Libristo държите всичко под контрол.

Създаване на акаунт за Libristo