[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capab...
Цялото описание
Код Либристо: 07085730
?
147 b
147 b
114.41
лв
Външен склад
Изпращаме след 15-20 дни
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.
Информация за книгата
Пълно заглавие
Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
Автор
Md.Abu Sayeed, Zakia Ferdous
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2012
Брой страници
72
Баркод
9783848400355
Код Либристо
07085730
Издателство
LAP Lambert Academic Publishing
Тегло
118
Размери
152 x 229 x 4
Категории
