[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Език
Английски език
Английски език
Книга
С твърди корици
Код Либристо: 06726976
?
726 b
726 b
565.69
лв
50% вероятност
Ще претърсим света
Кога ще получа книгата?
30 дни за връщане на стоката
Може би ще Ви заинтересува
/
С меки корици
183.38
лв
Информация за книгата
Пълно заглавие
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Автор
Sandeep K. Goel
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С твърди корици
Дата на издаване
2013
Брой страници
259
Баркод
9781439829417
ISBN
9781439829417
Код Либристо
06726976
Издателство
Taylor & Francis Inc
Тегло
598
Размери
175 x 238 x 22
