[email protected]
Ще ви отговорим до 24 часа
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Контакт
Как се пазарува?
Помощ
Доставка
Speedy office 11.00 лв
Speedy 13.00 лв
ЕКОНТ 6.00 лв
Еконтомат/Офис на Еконт 6.00 лв
Box Now 6.00 лв
Безплатна доставка със Еконт над 129 лв
Наръчник за пазаруване
Тук сме за Вас!
[email protected]
Моят акаунт
Станете част от общност от любители на книгите от цял свят и получавате много предимства.
Създай на безплатен акаунт
▸
Празна :-(
0
VLSI Design and Test
Език
Английски език
Английски език
Книга
С меки корици
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design an...
Код Либристо: 24309227
?
353 b
353 b
275.44
лв
Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 13-16 дни
30 дни за връщане на стоката
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The p
Информация за книгата
Пълно заглавие
VLSI Design and Test
Език
Английски език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Дата на издаване
2019
Брой страници
775
Баркод
9789813297661
ISBN
9813297662
Код Либристо
24309227
Издателство
Springer Verlag, Singapore
Тегло
1193
Размери
155 x 235 x 43
Категории
